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IM7585阻抗分析儀高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:Z快0.5ms,測量值偏差0.07% ● 測量頻率:1MHz~1.3GHz
2023-11-12
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1142
IM7587 阻抗分析儀 可信賴的機型3GHz ● 測試電壓測量頻率:1MHz~3GHz ● 測量時間:Z快0.5ms(模擬測量時間) ● 測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ● ● 緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量
2023-11-12
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1101
3504-60 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
2023-11-12
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1136
3504-50 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
2023-11-12
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1134
3504-40 C測試儀 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
2023-11-12
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958
3506-10 LCR測試儀 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 ● 提高了抗干擾性,在產線的上也能實現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩定測量 ● 根據BIN的測定區分容量
2023-11-12
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932
3511-50 LCR測試儀精巧,非常專業,5ms快速測量LCR ● 高速測量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) ● 高精度: ± 0.08% ● 內置比較器
2023-11-12
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1055
IM3533 LCR測試儀基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,不間斷測試,速度比以往產品快10倍。
2023-11-12
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